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            鉑悅儀器(上海)有限公司

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              手持式X熒光光譜儀重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀.采用了布魯克公司的SharpBeam?技術,并配置了布魯克技術X-Flash?SDD探測器,向您提供快.....

            • 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g 科研手持XRF光譜儀TRACER 5g

              TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器,石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口

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              微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。

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              M4 TORNADO微區X射線熒光成像光譜儀PLUS是能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

            • 便攜臺式xrf分析儀 便攜臺式xrf分析儀

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            • 手持式合金分析儀 手持式合金分析儀

              手持式合金分析儀是質量控制(QA/QC),材料分析(PMI),混料識別,廢料分揀(Recycling),牌號識別(Grade ID)等領域中的檢測設備小巧的設計,準確的測量精度,抵抗惡劣環境的能力,更.....

            • 探針式輪廓儀Dektak XTL 探針式輪廓儀Dektak XTL

              探針式輪廓儀是一種用于化學,材料科學,電子與通信技術,化學工程領域的分析儀器.分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度.它的雙攝像頭設置使空間感增強,其高水平自動化可生產量.

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              德國布魯克DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?.使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管.....

            • 三維光學輪廓儀 三維光學輪廓儀

              表面輪廓儀用于加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫療設備,MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選項和易用性等特點,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。

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              原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?分辨率的儀器性能前提下,解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

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              PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案

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              CUBE(立方)是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續復位模式運行。

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              原子力顯微鏡探針(AFM探針)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器.在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域,逐漸發展成為重要的、多功能材的材料表征工

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            邀請函 | 2023年SNEC 第十六屆(2023)國際太陽能光伏與智慧能源(上海)大會暨展覽會 2023-05-23

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